Structural and Electrical Characterization of Heterostructures Suitable for Future Nanoscale CMOS Devices
Universitet
Göteborgs universitet/University of Gothenburg
Institution
Physics and Engineering Physics
Fysik och teknisk fysik
Disputation
Hörsal KB Kemigården 4 Chalmers kl. 10.00
Datum för disputation
2004-12-16
Fil(er)
Datum
2004Författare
Myrberg, Tobias
Publikationstyp
Doctoral thesis